本实用新型涉及检测设备技术领域，公开了一种
芯片研发用性能检测设备，其结构包括固定板、活动板和检测头，活动板上设置有伺服电机、轨道槽和轴承，伺服电机固定连接在活动板的一端，轨道槽位于活动板的一侧，并且与活动板的内部相通，轴承设置有两个，并且固定连接在活动板内部的两侧，轴承通过丝杆连接有活动块，活动块的一端可拆卸安装有夹板，夹板通过压力传感器通过橡胶板，伺服电机和压力传感器通过导线电性连接有控制器。本实用新型实现了对芯片进行自动夹持，节省了芯片在夹持固定时的时间，避免了夹板对芯片的挤压力过大而导致芯片损坏的现象，提高了芯片检测夹持过程中的保护效果。
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来源：北方有色网
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