本发明公开了一种电源管理
芯片电控性能检测装置，包括底座，底座内设置有用于收集芯片的收纳机构，底座上侧设置有检测箱，检测箱内设置有用于检测芯片电控性能的检测机构；本发明通过转动的皮带带动芯片由上至下运动，当芯片向下运动至引脚与供电触点以及三个导电块接触时，则芯片引脚向导电块输出电压，使得主动触点与从动触点抵接，若芯片正常工作，引脚使得三个主动触点均与从动触点抵接，则第一电磁铁才会得电，以此使得右侧的收纳腔向左运动至芯片腔下侧，从而收集正常工作的芯片，若芯片无法正常工作，则反之，使得左侧的收纳腔收集无法正常工作的芯片，从而实现了芯片大批量快速检测，极大的提高了芯片检测效率。
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“一种电源管理芯片电控性能检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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