本发明涉及检测设备技术领域，且公开了一种电子产品研发用密封性能检测装置及其使用方法，其中的电子产品研发用密封性能检测装置包括检测箱，所述检测箱内填充有检测水，所述检测箱的顶部设有盖板，盖板的底端转动安装有第一转杆，第一转杆的底端固定安装有U形架，U形架的两侧内壁上均开设有螺纹孔，螺纹孔内螺纹安装有螺杆，螺杆的一端固定安装有压板，螺杆的另一端固定安装有转板，检测箱的两侧均固定安装有两个对称设置的连接座。本发明设计合理，便于对电子产品进行移动，从而便于把电子产品放置到检测水中，且便于把电子产品从检测水中取出，且便于对电子产品的表面进行风干。
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来源：北方有色网
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