本发明涉及电子元件检测技术领域，提供一种电子元件抗震性能检测装置，包括检测装置，所述检测装置的左右两侧均固定连接有活动连接杆，所述检测装置的左右两侧均通过活动连接杆固定连接有通路检测装置，所述检测装置的上下两侧均固定连接有转杆驱动，所述检测装置的上下两侧均通过转杆驱动活动连接有抗震偏移检测装置，该电子元件抗震性能检测装置，通过抗震偏移检测装置产生震动后，带动检测装置处于振动状态，由于伸缩架为可伸缩状态，而警报器晃动靠近连接线头，设备打开后，电能作为驱动，则吸磁头为通电带有磁性的特点，与连接线头外表面的包裹的固体金属吸附，电子元件与警报器产生连接，则在晃动过程中，线路为通电状态。
声明：
“一种电子元件抗震性能检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1122
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
