本申请公开了一种存储系统的时延性能检测方法，能够全面监测存储系统中IO请求栈的各个层，得到IO请求在每层的时延；然后根据基准时延模型中同类型IO请求在整个IO请求路径上的平均时延，筛选出时延离群点；最终根据基准时延模型中同类型IO请求在每层的平均时延，确定IO请求栈中导致所述时延离群点的时延瓶颈层。实现了检测并分析存储系统的时延瓶颈的目的，且整个检测过程覆盖度高，可靠性高。此外，本申请还提供了一种存储系统的时延性能检测装置及设备，其技术效果与上述方法的技术效果相对应。
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“一种存储系统的时延性能检测方法、装置及设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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