本发明提供了一种熔断器性能检测装置与方法，涉及熔断器领域。该熔断器性能检测装置包括采样电阻、示波器、可编程电子负载以及电容器，采样电阻、可编程电子负载依次串联，示波器与采样电阻并联，电容器与可编程电子负载并联。该熔断器性能检测装置实现了即使在单脉冲持续时间小于5ms时，也可以进行精确脉冲试验，适合进行方波脉冲试验，另外，操作人员或装置可以依据示波器的波形调整电容值，以避免因电容放电效应而产生样品意外损伤，从而产品性能分析十分精确。
声明：
“熔断器性能检测装置与方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1244
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
