本申请公开了一种针对非均质储层的测井解释方法、装置、电子设备及介质。该方法包括：针对目标层进行岩性识别，建立目标层单井连续岩性剖面；针对单井连续岩性剖面进行储层识别，提取各类储层的测井响应特征；计算每类储层的孔隙度、渗透率与饱和度；根据孔隙度与流体类型针对储层进行分类，获得储层类型‑流体类型组合分类结果；分别进行电性曲线与储层参数的两两交会，确定每一类储层的电性与储层参数界限值，建立多类型储层测井解释标准，进行未知井的单井测井解释。本发明将测井测量原理与地质成因结合，通过对储层岩石物理响应剖析，进行层层有效的储层分类和计算模型转换，提高储层参数计算精度、储层类型和流体识别率。
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“针对非均质储层的测井解释方法、装置、电子设备及介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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