将不含
贵金属发射剂和样品液依次滴加在单铼 带的同一位置上，使样品在电离过程中Nd+比NdO+ 的产额提高4-5个数量级，从而实现在质谱仪器上 用单铼带直接测定Nd+，以确定样品中Nd的准确含 量与同位素比值。本发明用于地质年代学中的年龄测定和同位素 示踪应用；还用于
稀土工业，尤其是高纯稀土标准的 建立，矿石及稀土产品、制品中稀土含量的高精确度 测定；也适用于难以产生金属离子的稀土及某些其它 元素(如La、Ce、Gd、Sm、U等)的分析测定。
声明：
“用CX-1发射剂实现单铼带直接测定Nd+的钕同位素分析新方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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来源：北方有色网
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