本发明适用于固体样品元素含量分析技术领域，提供了一种用于微波等离子体炬发射光谱的固体进样分析系统，包括激光器，用于输出预定波长的激光；光学扩束装置，用于将激光扩散处理；光路调节装置，用于将扩散处理后的激光光束按预定角度反射和/或将可见光透射处理；光学聚焦装置，用于将激光光束聚焦处理后传送到样品室；样品室，用于放置样品，并接收聚焦后的激光对样品进行烧蚀处理；成像处理装置，用于将所述光路调节装置透射处理后的可见光成像处理。本发明具有无需样品前处理，固体样品直接分析，分析速度快，分析灵敏度高等特点，可用于冶金、地质、硅酸盐等工业领域的固体或粉末样品快速元素含量分析。
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“用于微波等离子体炬发射光谱的固体进样分析系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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