本发明涉及一种五轴四维异形样品X射线荧光光谱探测装置,设有支架、外壳、X射线发生系统、五轴可调探测系统、显微摄像系统、三维测件台座和信息分析和控制系统;探测系统的主体探测头的下方设有多孔右底板、伸缩曲杆和可调节横杆、螺丝杆及旋钮;X射线发生系统的主体X射线管下方设有左底板、可调底支架;显微摄像系统的主体摄像头固定在可前后左右调节位置的活动支架上;测件台座设有台板、调节螺丝杆、调节控制器;所述信息分析和控制系统设有计算机及其显示器、打印机;还设有定时运行控制系统和安全报警器。本发明适用于利用X射线荧光光谱对各种成份和形态的矿物质、生物质等进行成份分析。结构完善、使用方便灵活、探测效果好效率高、安全可靠。
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来源：北方有色网
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