本发明属于
粉末冶金检测技术领域，具体涉及一种镁基复合粉末包裹层厚度的测定方法。针对现有评价镁基复合粉末包裹效果的方法少，不直观的问题，本发明提供一种镁基复合粉末包裹层厚度的测定方法，包括以下步骤：a.粉末样品的镶嵌处理；b.截面样品的磨抛处理；c.样品喷碳导电处理；d.扫描电子显微镜中面扫描软件测定包裹层元素分布图，观察测定包裹层厚度。本发明通过对样品进行镶嵌、截面抛光、真空镀膜导电处理，可直接通过扫描电子显微镜进行面扫，进而得出截面的各个元素分布图。根据分布图直观显示镁基复合粉末包裹层厚度，也可定量计算出包裹层厚度。本发明的方法操作简单，效果直观，测定难度小，便于推广。
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“镁基复合粉末包裹层厚度的测定方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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