本发明公开使用组合的X射线计算机断层扫描(CT)/X射线荧光(XRF)系统对样本(104)进行相关性评估，还公开一种使用X射线CT和XRF分析样本(104)的方法。CT/XRF系统(10)包括用于获取体积信息的X射线CT子系统(100)和用于获取元素组成信息的XRF子系统(102)。几何校准被执行于XRF子系统(102)和X射线CT子系统(100)之间，从而X射线CT获取期间定义的感兴趣区域能被XRF子系统(102)恢复，以便随后的XRF的获取。系统(10)结合了X射线CT的亚微米空间分辨率三维成像能力和共焦XRF的元素组成分析，以提供样本(104)ppm级灵敏度的三维元素组成分析。这适用于许多科研和工业应用，其典型例子就是
采矿工业中破碎及研磨原矿和
浮选尾矿中的
贵金属颗粒元素识别。
声明：
“组合共焦X射线荧光和X射线计算机断层扫描的系统和方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1179
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
