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本发明公开了一种储能电站电池的失效分析方法及装置，包括以下步骤：(1)对储能电池的状态进行在线评估，利用数据驱动模型分析储能电池单体各项参数健康度；(2)当至少一个参数的健康度低于设定的阈值时，通过电化学机理模型对该储能电池单体进行发热特性分析，根据分析结果对其进行容量校正和主动均衡；(3)若经过步骤(2)处理之后，仍检测到储能电站继续发出在线告警信号，则将劣化储能电池单体拆除；(4)离线诊断，找出电池失效原因。本发明将状态在线评估与性能离线诊断相结合，通过状态在线评估半定量分析电池单体失效的可能性，通过性能离线诊断定量检测电池失效程度，建立储能电站电池失效分析方法。
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一种电子设备失效分析方法及系统，用于对电子设备的功能失效原因进行分析，所述方法包括：建立总数据库，所述总数据库包括第一数据库，所述第一数据库内存储待分析电子设备的测试数据，所述测试数据包括待分析电子设备编号、测试名称、测试指令、测试相关的器件以及测试过程中出现的失效记录；图像化显示步骤，根据失效记录对应的测试数据图像化与所述失效现象相关的器件，生成并显示对应的第一图片，所述第一图片包括相关的器件以及所述相关的器件之间的信号收发状况；以及失效原因检查步骤，判断待分析电子设备的失效原因，并根据所述失效原因显示第一图片中造成所述失效现象的器件。
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本发明涉及一种PCB板失效分析方法,其包括以下步骤:1)、对PCB板进行外观光学检查,判断其是否有污染或开裂现象;2)、对步骤1)中判断有污染或开裂现象的PCB板进行电性能检测,判断其是否有电性异常;3)、对步骤2)中判断有电性异常的PCB板进行X-RAY射线检测,判断其上的焊接是否良好;4)、对步骤3)中判断有焊接异常的PCB板进行电子扫描显微镜观察;5)、对经过步骤4)处理的PCB板进行能谱分析。本发明所述的PCB板失效分析方法,其通过对PCB板进行外观光学检查、电性能检测、X-RAY射线检测以及电子扫描显微镜观察,可以有效、快速地检测出PCB板产生的失效现象。
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本发明公开了一种车载直流降压芯片失效分析方法，包括以下步骤：步骤1)外观检查；步骤2)良品与不良品I/V测试对比分析；步骤3)无损探伤对比分析；步骤4)开封内部检查；步骤5)EMMI对比分析；步骤6)汇总记录，定位车载直流降压芯片失效位置。本发明一种便捷、高效的分析方法，能够快速定位芯片失效位置，并准确分析出失效应力来源。
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本发明涉及半导体可靠性分析领域，尤其涉及一种半导体器件失效分析的方法。本发明建立一种针对存储器的失效分析的方法，通过对失效区域及其周围区域的连接通孔进行电压对比分析并对电压对比分析结果剖析，以检测出快闪存储器由于冗余替换的存储区域缺陷经过可靠性测试或实际使用后造成的临近区域的失效问题。在可靠性失效中对冗余替换的信息进行分析，为冗余电路的替换造成的可靠性失效问题提供有力的分析依据，并对可靠性失效率的降低提供了分析及改善的方向。
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本发明公开了一种基于LIBS的锅炉受热面高温失效趋势快速分析方法，具体是：锅炉停炉检修期间，脉冲激光光源发出的激光聚焦于待检测的受热面管道表面，使检测的金属材料被烧蚀气化并形成等离子体，采集等离子体膨胀冷却过程中发射的光谱信息，提取表征受热面管道物理和化学特性的光谱特征指标，利用激光等离子体光谱特征指标与材料组织和力学性能指标之间的关联性，得到被测管道的组织状态和力学性能指标，从而预测被检测管道的失效趋势。本发明无需割管即可对受热面结构特性和机械性能进行快速分析，在宏观缺陷出现前判断其失效的趋势，可以有效提高检修期间金属检查的效率，促进快速失效分析技术的发展。
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本申请一种闪存芯片位线间漏电失效分析的方法，涉及芯片失效分析领域，通过采用非破坏性分析工艺，将FIB切分工艺和奈米级探针量测工艺相结合，在完全不破坏前端工艺所有材料的状况下，直接定位出失效的栓塞处，且其可检测位于栓塞不同位置的桥连(如位于栓塞顶部、中间或其他任何位置处的桥连)，并能够获得较好的TEM样品，以便于后续TEM的精准观测，即在有效提高失效分析的可靠性的同时，还能大大降低失效分析所花费的时间及工艺成本等。
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本发明公开了一种压力容器失效的分析方法，包括以下步骤：S1、制定检验方案：确定压力容器的相关工作参数，结合相关工作参数确定失效的具体内容和形成原因，制定因素分析表，并对应不同因素增加检测方案；S2、方案分析：分析造成失效的不同因素间的相关性，对关键因素进行标记，分析造成因素的原因，记录相关联的工作参数及产生时间、产生频率，同步的制定风险防御方案；S3、失效分析前检查：结合压力容器的基本信息以及设备运行的实际情况，初步分析压力容器是否符合特定工作状态下各项指标要求。本发明对压力容器存在的潜在风险进行及时防控，实现高效排除不同环境下存在的隐患，有效提升压力容器检验效果与质量，适用于工业相关产业。
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本发明公开了一种航空发动机转子非包容失效安全性分析方法。本发明方法包括以下步骤：导入航空器及航空发动机数字样机模型，并对其进行简化；模拟航空发动机转子碎片生成以及碎片从发动机机匣中飞出后的轨迹，将碎片对简化后的数字样机进行穿透性检测；通过对发动机碎片与航空器数字样机的穿透性检测撞结果与航空器灾难性危险的最小危险组合单元进行对比，判断危险事件是否被触发；根据危险触发分析结果，求出航空器在不同失效模式下的灾难性危险概率。本发明方法通过计算机仿真来求出由转子非包容失效导致的飞机灾难性事故概率，具有计算量小、效率高、分析结果准确可靠等优点，可为飞机安全性设计与适航符合性验证提供支持。
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本发明公开了二极管检测领域内的二极管失效分析装置，包括箱体、反应釜，箱体为矩形箱状，箱体的上端设有进料口，箱体内壁的一侧固定有两个并列设置的支撑臂，反应釜的中部铰接在两个支撑臂之间。箱体顶端的内壁上固定有气缸，气缸的输出端连接有伸缩杆，伸缩杆上铰接有连杆，连杆的另一端铰接在反应釜靠上。支撑臂下方的箱体内壁上设有导槽，箱体内部的底部设有废液收集箱，导槽的底端伸入废液收集箱内。本方案能够完成二极管失效分析实验的多次加热腐蚀，不用操作者直接接触反应釜，对废弃的酸液进行集中回收处理，使实验的危险性更低，减少对环境的污染，更加环保，更方便对二极管进行失效分析实验。
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本申请实施例公开了一种车道保持功能失效分析方法、系统、电子设备及存储介质，方法包括：检测车道保持功能的失效场景；当失效场景为车辆在高速路出口且车道保持功能异常时，对车道线进行识别，并得到对车道线的识别类别；当车道线的识别类别为误识别时，分析车辆经过高速路出口时，路面状况对车辆行驶的影响类型以及影响严重程度级别；对于其它的失效场景，分析车道保持功能异常的原因类型。本申请实施例能够根据检测到的数据自动化分析车道保持功能异常时，路面状况对车辆的影响以及严重程度级别，以及分析车道保持功能异常发生的原因，相比原始的主观判断和手动分析，节约了大量时间，且分析结果更加准确。
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本说明书一个或多个实施例提供一种片式熔断器失效点的分析方法及装置，所述熔断器失效点的分析方法包括对待检测的片式熔断器的外观进行观察，检测所述片式熔断器的陶瓷基片是否损坏；将外观合格的片式熔断器进行X射线检查，查找所述外观合格的片式熔断器失效点的位置；对外观合格的片式熔断器进行第一导通测试，确认所述外观合格的片式熔断器是否为开路；通过化学方法对所述外观合格的片式熔断器进行处理，获得去除保护膜的片式熔断器；对所述去除保护膜的片式熔断器进行第二导通测试，获得原始形貌完整的失效点的数量和位置。通过本发明方法中化学处理法对片式熔断器保护膜的处理，对导电膜造成的损坏低，降低了失效点的原始形貌的受损程度。
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本发明为一种用于高铁装置油位计聚碳酸酯玻璃板失效原因的综合分析方法。具体步骤为：实地调查和了解玻璃板的工艺参数、运行工况；对失效的玻璃板进行外观检查；采用三维体视显微镜或扫描电镜对失效的玻璃板的断面和内外侧表面进行细致的观察和分析；采用表征方法对玻璃板表面清洗剂进行成分分析；采用表征方法对失效玻璃板的成分、性能进行分析；检查和检测玻璃板的尺寸与凹槽之间的尺寸关系；综合以上从宏观到微观、从现象到本质，确定玻璃板失效的根本原因。本发明通过对高铁齿轮箱油位计玻璃板进行系统的综合分析后，可以快速、准确地判断玻璃板失效的原因，进而采取针对性的预防措施。本方法对其他运输领域聚砜、聚醚砜等高性能玻璃板的安全使用也具有实用参考价值和指导意义。
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本发明公开了一种地铁供电网络悬吊结构件的失效分析方法及应用，包括如下步骤：在已经断裂失效的悬吊结构件的断口处取样(包含断裂面)，将样品清洁后，首先利用体视显微镜进行断口及其周围的宏观检查。利用扫描电子显微镜对断口进行微观形貌观察，然后利用电子探针X射线显微分析仪对断口表面进行元素定性分析，最后利用电子探针X射线显微分析仪对样品进行元素相对分布分析，根据检测结果分析导致悬吊结构件失效的原因。将体视显微镜、扫描电子显微镜与电子探针X射线显微分析仪等设备结合起来鉴定悬吊结构的失效原因，各自取长补短使整个分析过程更有理有据，即准确直观，又方便易行，对杂质元素的分析与定位也更精确。
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本发明涉及一种MIM电容器件失效分析方法，MIM电容器件位于一硅衬底上并包括一上极板、一下极板和一位于上极板与下极板之间的绝缘层，硅衬底上还至少包括一位于MIM电容器件上方的金属层，上、下极板分别与金属层的第一、第二电路区电连接，该方法包括如下步骤：a)确定下极板有无接地，若没有，则执行步骤b)；否则，执行步骤d)；b)寻找与MIM电容器件层间距离最近的电源总线；其中，电源总线包括一接地引线；c)形成一连接下极板与电源总线的电路通路；d)通过电压衬度检测确定MIM电容器件的漏电区域。其在通过电压衬度检测MIM电容漏电区域时，不会漏过漏电程度较小的情况，便于观测、也更加可靠。
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本发明涉及一种电脑主机板失效分析方法,其包括以下步骤:1)、对电脑主机板进行外观光学检查,判断其是否有污染;2)、对步骤1)中判断有污染的电脑主机板进行电性隔离测试,判断其是否有电性异常;3)、对步骤2)中判断有电性异常的电脑主机板进行SEM/EDS分析,判断其是否有导电性元素;4)、对步骤3)中判断有导电性元素的电脑主机板进行超声波清洗。本发明所述的电脑主机板失效分析方法,其通过对电脑主机板进行外观光学检查、电性隔离测试、SEM/EDS分析以及超声波清洗,可以有效、快速地检测出电脑主机板产生的失效现象。
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本发明公开了一种基于回归分析的电磁环境中TCU失效预警方法，包括步骤：(1)通过电磁时域仿真软件确定TCU电路板图上的敏感器件；(2)在敏感器件上设置若干个探头，监视感应电压波动或感应电流波动，若出现异常则记录到异常日志中；(3)对异常日志pn进行信息提取，构造异常信息向量sn，并评估其失效模式概率
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本发明公开了飞机发动机非包容失效安全性分析系统及方法，属于飞机特殊风险分析与评估的技术领域。所述飞机发动机非包容失效安全性分析系统包括需求信息处理模块、参数设定模块、模拟仿真和结果输出模块。所述飞机发动机非包容失效安全性分析方法：确定发动机转子碎片相对于飞机数字样机的位置参数、尺寸参数；在失效碎片可达区域范围内，采用基于区域划分和层次包围盒法检测发动机转子碎片可能导致失效的飞机设备模型，通过对仿真结果矩阵和最小割集做布尔运算，识别灾难性功能危险并定量给出转子非包容失效安全性的分析结果。本发明在飞机设计阶段快速精确地识别出转子非包容失效的潜在危险，为飞机系统安全性设计和构型设计提供技术支持。?
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一种存储元件的失效模式分析方法，包括：利用检测系统来扫描晶圆，以产生所述晶圆的失效图形，并利用检测程序来取得所述晶圆中的单比特位的失效数量；依据字线布局、位线布局以及有源区布局定义出单比特位的分组表；对自对准双重图案化工艺中的至少一工艺分类出核心群组与空隙群组；以及分别统计所述核心群组与所述空隙群组中的单比特位的失效数量，以产生核心失效信息与空隙失效信息。
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本发明公开了一种天然气长输管道失效的分析方法，包括步骤一、针对天然气长输管道的腐蚀减薄状况，通过实验方法和理论方法获得其在天然气输运过程中的腐蚀速率；二、通过腐蚀速率预测天然气长输管道在使用年度的管壁有效厚度和延性裂纹止裂韧性；三、通过概率分析方法计算发生延性裂纹扩展管段的数量占全体连接管段数量的比例；四、计算天然气长输管道的失效风险概率；五、根据天然气长输管道的失效风险概率和可承担风险概率，对管道失效进行分析判定，并预测管道的允许使用年限。本发明方法步骤简单，实现方便，能够有效应用在天然气长输管道的失效分析中，对天然气长输管道的安全检验、维护和保养提供可靠的指导，效果显著，便于推广。
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本申请提供一种材料失效裂纹源的分析方法，属于材料检测领域。材料失效裂纹源的分析方法，包括：从同批次零件或者同一个零件中获取失效试样和至少一个中间试样；失效试样取自零件断裂部位，中间试样取自零件未断裂部位。选择具有中间裂纹的中间试样作为裂纹试样；中间裂纹为位置与失效试样的断裂位置对应的裂纹。根据裂纹试样中的中间裂纹的位置，确定零件的失效裂纹源位置。该分析方法能够有效降低零件的使用环境和加工过程对查找裂纹源的干扰。
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本发明公开了一种高温环境下密封电路模块间歇性密封失效分析方法，将电路模块和稀有气体封装入腔体工装中，并对封装好的腔体工装进行加热存贮或功率老炼实验，对实验后的电路模块进行水汽检测，判断电路模块是否存在高温间歇性密封失效，能够对密封电路模块是否因存在密封不良而导致的内外气体交换进行定性分析，针对不合格的电路模块进行定位分析，将存在高温间歇性密封失效的电路模块的外壳切割成两部分，一部分在空气气氛中进行加热存贮，另一部分不做处理，将电路模块外壳上的引脚和绝缘子取出，对电路模块外壳上与绝缘子接触的部位进行分析，找出具体的密封不良的失效部位，以便对该失效部位的具体原因进行分析，并将结果反馈生产厂家。
本发明实施例公开了一种电池单体失效的分析方法、验证方法、装置、设备及介质。包括：建立电池单体的失效模型；根据所述失效模型确定所述电池单体的失效原因；基于所述失效原因确定所述电池单体的失效前置条件；对所述电池单体进行监测，当检测到所述电池单体达到所述失效前置条件时，生成报警信号；将所述报警信号发送至电池管理系统，使得所述电池管理系统对所述电池单体进行安全处理。本发明实施例提供的电池单体失效的分析方法，可以实现对电池单体失效的分析，预防电池使用过程中失效并导致整车安全事故发生。
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本发明提供一种半导体激光器芯片失效分析方法，目的是解决现有方法难以准确分析和判断半导体激光器芯片失效原因的问题。该方法包括：步骤一、物理缺陷检查；步骤二、光电性能测试；步骤三、腔面光场分布测试；步骤四、扫描电子显微镜分析；步骤五、内部分析；步骤六、焊接质量分析。本发明方法是一种逐层递进、由外及内的失效分析方法，可快速找出COS芯片失效的原因及失效的深层机理。
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本发明公开了一种膜电极的失效分析装置，涉及膜电极检测领域，解决了现有的膜电极不方便进行失效分析，没有合适的装置能够单独对膜电极进行失效性分析的问题，现提出如下方案，其包括箱体、气管、气缸筒、把手、箱盖、膜电极槽、槽体、密封垫、上极板、上安装板、电动气缸，每个所述电动气缸的输出端与上安装板的下端面均固定连接有第一铰接座，且相邻的所述第一铰接座之间转动连接有第一转杆，所述箱体的下内壁固定安装有限位台，所述上极板的下方设置有下极板，所述下极板的下饭阵列安装有下安装板，每个所述下安装板的下端面与限位台之间均设置有调节机构。本装置具有方便对膜电极进行单独的失效分析检测，同时通用性好的特点。
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本发明涉及半导体器件检测领域，尤其涉及一种半导体器件失效分析方法。在该半导体器件失效分析方法中，将插销和金属层间的介电质层全部刻蚀掉，再观测插销与金属层间连接部分，观测其中异常情况，找到导致产品失效的根源，方便实用。
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本发明公开了一种失效芯片的分析方法，属于芯片检测领域。所述解封方法包括：裁剪部分失效芯片，以减少所述失效芯片上封装膜的表面积；将所述失效芯片放置于第一酸性溶液内，所述第一酸性溶液的温度为20℃~60℃；所述封装膜去除后，将所述失效芯片放置于第一有机溶剂中清洗；将所述失效芯片放置于第二酸性溶液内；对所述第二酸性溶液进行加热，且加热温度为50℃~150℃；将所述失效芯片放置于第二有机溶剂中清洗；以及将所述失效芯片置于显微镜下进行检测。通过本发明提供的一种失效芯片的分析方法，可提高失效芯片的分析可靠性。
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一种基于失效物理的退化数据有效性分析方法，其步骤如下：一、进行丁腈橡胶的热氧老化试验；二、对老化试样进行压缩应力松弛测试和傅里叶变换红外光谱测试；三、对老化试样进行红外光谱和压缩应力松弛测试结果进行分析；四、利用基于数据一致性的方法进行检验；通过以上步骤，利用对加速老化后的丁腈橡胶试样进行红外光谱测试的相关实验数据分析来判断试样在加速老化过程中的失效机理是否发生改变来确定压缩应力松弛测试中的实验数据是否有效；剔除了无效的数据，并通过数据拟合得出有效数据的拟合度达到0.99，远高于原0.93。该方法填补了之前对丁腈橡胶退化数据有效性分析方面的空白，对后续的寿命预测的准确度和精确度有着重大的意义。
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一种电子元件接触点失效分析方法,该方法包括以下步骤:找到插槽中不合格的针脚;检测上述不合格的针脚是否被氧化;当不合格针脚被氧化时,检测出氧化物的成分及氧化物在不合格针脚中的具体位置;检测不合格的针脚中是否有助焊剂;当不合针脚中有助焊剂时,检测出助焊剂在针脚中的具体位置。利用本方法可以对电子元件进行验证,准确地得出失效的原因及失效点的确切位置,提高了失效验证的精确度。
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