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工作原理
XRF-K5采用能量色散X射线荧光光谱技术，通过50KV/1mA数字高压电源驱动X射线管发射高能X射线，激发样品表面元素产生特征荧光。美国AMPTEK定制Si-PIN探测器捕获荧光信号后，内置Intel i3十核工控电脑结合Smart FP算法，对信号能量与强度进行解析，实现多元素同步定量分析。该技术无需化学预处理，60秒内即可完成从样品激发到结果输出的全流程，支持钾（K）至铀（U）共30种元素检测。
应用范围
设备覆盖贵金属全产业链场景：黄金回收行业可快速鉴别K金纯度及掺假金属；珠宝工厂能检测首饰中金、铂、钯、银等元素含量；银行与展厅用于贵金属制品的快速验货。此外，其铼钨检测报警功能可识别“金包银”等镀层材料，满足复杂样品分析需求。
产品技术参数
检测范围：0.010%～99.999%，精度达±0.03%（9999金）；
核心部件：50KV/1mA X射线管、Φ0.5mm焦点、Φ2.5mm准直器、6mm²探测器（分辨率145±5eV）；
硬件配置：内置Intel i3十核工控电脑，支持TCP/IP协议API接口；
环境适应性：工作电压AC100～240V，温度15℃～31℃，通过CE认证。
产品特点
高精度与稳定性：±0.03%检测精度与145eV能量分辨率，确保数据可靠性；
智能化操作：自带IPS液晶屏与电容触摸屏，支持一键测试及多点连续检测；
多功能集成：可同步分析贵金属合金、液体样品，并生成自定义报告；
高效便捷：60秒快速检测，支持外网控制与数据采集，提升工作效率。
XRF-K5凭借其技术优势，已成为贵金属检测领域的标杆设备，为企业提供低成本、高效率的合规解决方案。
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