全部
▼
223
工作原理
OST-SW200采用无限远光学系统，通过高数值孔径物镜与高分辨率工业相机的协同工作，实现亚微米级细节捕捉。其核心光学路径包含可变角度三目观察头，支持目视观察与数码成像同步进行；内置同轴落射照明系统结合LED环形光源，可消除阴影并提升边缘对比度，确保复杂表面形貌的清晰呈现。设备搭载2000万像素CMOS传感器，配合USB3.0高速传输接口，实现每秒30帧的实时图像输出，满足动态检测需求。
应用范围
该设备广泛应用于多领域检测：在半导体行业，可分析芯片封装缺陷及键合线形貌；电子制造领域支持PCB板焊点虚焊检测与微小元器件尺寸测量；金属材料研究可实现晶粒度统计及裂纹深度分析；新能源行业适用于电池材料颗粒分布观测与隔膜孔隙率计算。其兼容多种测量软件，可输出CAD图纸或生成3D重建模型，满足逆向工程需求。
技术参数
光学系统：无限远校正，支持明场/暗场/偏光观察模式
放大倍数：50X-2000X连续可调（含10X目镜与20X-200X物镜组合）
成像性能：2000万像素CMOS传感器，分辨率达5742×3648像素
载物台：行程100×100mm，精度±1μm，支持X/Y/Z三轴电动控制
照明系统：6分区LED环形光源，亮度可调，寿命超50,000小时
测量功能：内置几何量测量模块，支持点、线、圆、角度等20余种参数自动计算
产品特点
超高清成像：2000万像素传感器配合无限远光学系统，可清晰分辨0.5μm级特征
智能测量：一键式自动对焦与边缘检测算法，测量效率提升300%
模块化设计：支持偏光、荧光等附件扩展，适应多场景检测需求
人性化操作：10英寸触控屏集成测量软件，支持手势缩放与多点触控
咨询底价
