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工作原理
BOS-9200SZ通过半导体激光器发射单色光束，动态光散射（DLS）模块捕获颗粒布朗运动引起的散射光强波动，结合自相关函数算法计算粒径分布；电泳光散射（ELS）模块则通过施加电场，测量颗粒迁移导致的散射光频移，依据亨利方程推导ZETA电位。设备支持湿法进样（水/有机溶剂体系），适配纳米颗粒、乳液、蛋白质等样品的分散状态分析。
应用范围
该设备广泛应用于制药行业（脂质体、纳米药物粒径与稳定性评估）、化妆品研发（防晒霜二氧化钛分散性、乳液稳定性测试）、材料科学（纳米材料分散性优化）及环保领域（水体胶体ZETA电位与絮凝特性研究）。例如，在某生物医药项目中，BOS-9200SZ同步分析外泌体的粒径与ZETA电位，指导表面修饰工艺；在涂料行业，仪器可评估纳米填料的分散稳定性，优化配方性能。
产品技术参数
粒度测量范围：0.3nm-10μm（DLS模式）
ZETA电位范围：±200mV（ELS模式）
粒度重复性：≤3%（CV值，同一样品多次测量）
ZETA电位精度：±5mV（标准样品验证）
测量时间：≤2分钟（单次检测）
温度控制：室温~90℃（精度±0.1℃）
进样量：5-100μL（湿法）
输出格式：粒径分布表、ZETA电位曲线、多参数相关性分析
接口：USB、RS232、以太网
电源：AC 220V±10%，50Hz
尺寸：主机：700mm×500mm×400mm；显示器：19寸触控屏
产品特点
同步多参数分析：单次实验同步获取粒径与ZETA电位数据，揭示颗粒分散性与稳定性关联；
高精度纳米级检测：DLS分辨率达0.1nm，ELS灵敏度优于1mV，满足严格纳米材料表征需求；
智能软件系统：内置ISO 13321、ISO 22412标准算法，支持自动对中与背景校正，操作门槛低；
多模式进样设计：兼容水相、有机相湿法进样，适配不同溶剂体系（如PBS缓冲液、DMSO）；
工业级耐用性：全封闭光学系统与防尘设计，适应高湿度、多粉尘环境，维护成本低。
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