全部
▼
335
工作原理
Xradia Context micro采用锥束CT技术，微焦点X射线源（管电压30-130kV，功率8W）发射高能X射线穿透样品，样品固定于高精度旋转台（360°连续旋转，定位精度±0.005°）实现多角度投影采集。后方平板探测器（2048×2048像素，14bit动态范围）同步记录衰减信号，通过蔡司Reconstructor软件中的滤波反投影（FBP）与深度学习降噪算法（DL-Recon）联合处理，生成低噪声、高对比度的三维断层图像。设备支持双模式切换：标准模式（分辨率1μm）适用于常规材料分析，高分辨率模式（分辨率0.5μm）通过光路优化与相位对比技术提升轻元素（如碳、铝）成像质量。
应用范围
材料科学：分析金属3D打印孔隙分布、复合材料界面脱粘、陶瓷烧结缺陷及高分子材料内部流痕。
电子制造：检测PCB板焊点空洞率、半导体芯片封装裂纹、MEMS器件结构完整性及连接器内部磨损。
生物医学：观察骨骼微结构、牙齿珐琅质裂纹、植物导管网络及昆虫外骨骼力学性能。
地质勘探：研究岩石孔隙连通性、矿物晶体取向及油气储层渗透率。
工业检测：验证涡轮叶片铸造缺陷、塑料注塑件内部缩痕、焊接接头熔深及橡胶密封圈压缩变形。
技术参数
X射线源：微焦点源，管电压30-130kV可调，焦点尺寸≤1.5μm（130kV时）
探测器：Gadox闪烁体耦合CMOS，有效像素尺寸0.5μm，动态范围＞20000:1
扫描范围：样品舱直径≤100mm，重量≤2kg，支持原位加载（温度-40℃至+150℃）
分辨率：标准模式1μm体素，高分辨率模式0.5μm体素（需选配纳米模块）
成像速度：常规扫描≤30分钟/样本，快速扫描模式（降低分辨率）≤5分钟
软件功能：三维孔隙分析、缺陷自动分类、CAD模型比对及多模态数据融合
产品特点
紧凑高效：整机尺寸≤800×600×1200mm，占地面积小，可直接部署于生产线或实验室台面。
智能操作：内置AI助手自动优化扫描参数，支持一键式重建与报告生成，降低操作门槛。
低剂量成像：通过光子计数探测器与稀疏采样技术，将辐射剂量降低60%，适用于辐射敏感样本（如生物组织、聚合物）。
多场景适配：可选配低温/高温舱、湿度控制模块及防腐蚀气密罩，满足极端环境下的材料检测需求。
数据兼容性：输出标准DICOM/STL格式，可无缝对接3D打印机、有限元分析软件及虚拟现实平台。
维护便捷：模块化设计支持快速更换X射线管与探测器，单次维护时间≤2小时，保障设备利用率。
咨询底价
