全部
▼
411
工作原理
该仪器采用超高精度纳米衍射光学测量系统，结合高精度直线光栅X轴与高性能伺服驱动电机，构建工件表面轮廓的二维坐标体系。测量时，测针沿被测表面扫描，传感器将微观起伏转换为电信号，经计算机处理后还原出轮廓曲线。系统通过高稳定性气浮隔振技术消除外界振动干扰，配合智能恒测力系统（0.5-3mN可调），确保测力稳定，尤其适合软质材料检测。
应用范围
SJ5730系列广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具等行业，可对圆弧面、球面、异型曲面等大范围曲面进行粗糙度及轮廓尺寸一次性检测。典型应用包括轴承滚道直线度与粗糙度分析、发动机凸轮轴轮廓尺寸测量、人工关节表面微观轮廓度评价等，满足高精度制造领域的严苛检测需求。
技术参数
测量范围：X轴0-100mm，立柱轴0-300mm，Z轴±6mm（标准测杆）；
粗糙度参数：支持Ra、Rz、Rq等R参数，Pa、Pt等P参数，Wa、Wt等W参数及Motif参数；
分辨率：0.1nm，系统残差＜3nm；
符合标准：GB/T3505-2009、ISO4287:1997等国际国内标准。
产品特点
一体式测量：粗糙度与轮廓参数同步评定，无需模块切换；
高稳定性设计：采用红宝石转轴、研磨级摩擦导轨及碳纤维测杆，确保长期测量精度；
智能化操作：支持DXF图纸导入比对、自动找拐点、批量测量及自定义报表输出；
模块化保护：硬件软件双重防护，降低操作失误风险，延长仪器寿命。
咨询底价
