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工作原理
JXF-8000基于X射线荧光光谱（XRF）技术。仪器内置微型X射线管发射高能X射线，激发样品中原子内层电子，产生特征X射线荧光。通过高分辨率探测器捕捉荧光能量与强度，结合标准物质库与算法，可快速定性定量分析样品中ROHS限制物质及卤素元素含量，适用于固态、粉末、液体等多种形态样品。
应用范围
设备适用于多场景环保与质量控制需求：
电子制造：PCB板、连接器等电子元件的ROHS合规性验证；
玩具行业：塑料、涂料中铅、镉等有害物质筛查；
汽车零部件：内饰材料、电子控制单元的环保性能评估；
环保监测：废弃电子产品回收前的有害物质检测。
产品技术参数
检测元素：Pb、Cd、Hg、Cr⁶⁺、PBB、PBDE、Cl、Br；
检测精度：±5%（浓度≥10ppm）；
检测时间：≤120秒/样本（快速模式）；
探测器：SDD硅漂移探测器（分辨率≤145eV）；
X射线管：微型X射线管（电压50kV，电流200μA）；
数据接口：USB、以太网（支持LIMS系统对接）；
仪器尺寸：480mm×350mm×220mm；
电源：AC220V±10%，50Hz；
防护等级：IP54（防尘防溅）。
产品特点
多元素同步检测：覆盖ROHS 6项有害物质及卤素元素，适配全球环保法规；
高精度与快速性：ppm级检测精度，120秒内完成全元素分析，提升检测效率；
智能软件：内置ROHS、无卤等标准库，支持自动合规判定与报告生成；
操作便捷：中文触控界面，预设电子、玩具等行业检测程序，无需专业背景即可操作；
合规性：符合IEC 62321、GB/T 26572等国际与国内标准，数据具备法律效力。
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