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工作原理
AG-550采用X射线管发射高能光子，照射样品后激发内层电子，产生特征X射线荧光。硅漂移探测器（SDD）捕获不同能量的荧光信号，通过多道分析系统（MCA）转换为元素种类与含量信息。仪器支持真空与氦气氛围两种检测模式，适应轻元素（如Na至U）的宽范围分析需求。
应用范围
适用于金属合金成分验证（如不锈钢、铝合金）、矿石品位检测、土壤重金属污染分析、食品包装材料有害元素筛查（如RoHS指令限制的Pb、Cd、Hg、Cr等）。可检测固体、粉末、液体等多种形态样品，满足GB/T 17359、ISO 15632等国内外标准要求。
产品技术参数
元素检测范围：Na（11）~U（92）
检测下限：1ppm（轻元素）~10ppm（重金属）
分析时间：≤120秒（标准模式）
探测器：硅漂移探测器（SDD，分辨率≤135eV）
X射线管：铑靶，最大电压50kV，电流1mA
显示方式：7英寸彩色触控屏（分辨率1024×600）
数据存储：内置8GB，支持USB/WiFi导出
电源：AC 100-240V（50/60Hz）
防护等级：IP54（防尘防溅）
产品特点
宽元素覆盖：支持从钠到铀的元素分析，尤其擅长轻元素与重金属检测。
智能软件：内置自动校准与基体效应修正算法，支持一键式操作与标准曲线导入。
多模式检测：真空/氦气双模式，适配不同密度样品与轻元素分析需求。
便携设计：紧凑型机身（重量≤12kg），集成触控屏与无线数据传输，适配现场与实验室使用。
合规与安全：符合CE、RoHS指令，配备三重安全联锁（辐射防护、紧急停机、故障报警）。
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