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工作原理
MMI-50R通过光源发出光线，经聚光镜聚焦至样品表面，反射光携带样品组织信息后，由物镜收集并传递至棱镜系统。无限远光学设计确保光路可灵活扩展附件（如偏光片、滤光片），最终光线通过目镜或摄像头形成放大图像。设备支持明场、暗场、偏光等多种观察模式，可适应不同材质的透射与反射需求。
应用范围
广泛适用于冶金、机械制造、电子元件、地质勘探等领域，可完成金属晶粒度评级、非金属夹杂物分析、涂层厚度测量、相组成鉴定等任务，同时支持高校材料教学与科研机构的基础研究，尤其适合需要频繁更换样品或观察大尺寸试样的场景。
产品技术参数
放大倍数：50X-1000X（连续可调，标配5X/10X/20X/50X物镜）
物镜类型：平场消色差物镜（无限远校正）
载物台：Φ120mm旋转载物台，移动范围50×50mm，带刻度定位
光源：LED冷光源（亮度可调，寿命≥50000小时）
摄像头：可选配500万像素CMOS，支持USB3.0传输
观察方式：双目目镜（视野数20mm）或三目分光（目镜/摄像头同步）
调焦机构：粗微同轴调焦，微调精度0.001mm
尺寸：450mm×380mm×600mm
重量：25kg
产品特点
倒置结构设计，样品观察面朝下，适配大型或不规则试样
无限远光学系统，支持偏光、暗场等附件扩展，满足多场景需求
高精度电动载物台（可选），支持X/Y轴精准定位与程序控制
智能光源控制系统，自动调节亮度避免样品过热或光损
配套专业图像分析软件，支持自动测量、报告生成与数据存储
人体工学设计，可调目镜间距与观察角度，降低长时间操作疲劳
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