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工作原理：
OmniScan SX采用相控阵超声技术，通过多晶片探头（如16/32/64晶片）发射和接收超声波束。设备内置的相控阵模块可精确控制每个晶片的激发时序，形成可动态聚焦与偏转的超声波束，实现对复杂几何结构或不规则缺陷的全方位扫描。同时，设备支持常规超声检测模式，通过单晶或双晶探头完成基础检测任务。系统搭载高速数字信号处理芯片，实时分析反射回波的幅度、时间及相位信息，生成高分辨率的A扫描、B扫描、C扫描及S扫描图像，精准定位缺陷位置并量化其尺寸。
应用范围：
适用于航空航天领域发动机叶片、涡轮盘、机匣等关键部件的缺陷检测；满足石油化工行业压力容器、管道焊缝、储罐底板的在役检验需求；可应用于电力能源领域汽轮机转子、核电设备主管道的制造质量验收；同时支持轨道交通车辆轮对、轴箱体等部件的疲劳裂纹筛查，符合ASTM E2373、ISO 18563等国际标准要求。
产品技术参数：
支持相控阵与常规超声双模式检测；最大晶片数64，频率范围0.5MHz-20MHz；脉冲重复频率（PRF）最高10kHz；数据采样率240MHz；动态深度聚焦（DDF）支持多焦点层检测；屏幕分辨率800×480像素，支持触控操作；防护等级IP65，适应-10℃至50℃工作环境；单电池续航≥6小时，支持热插拔更换。
产品特点：
一体化设计集成PAUT与UT功能，降低设备采购成本；智能校准向导简化操作流程，缩短检测准备时间；多扫描模式（线性、扇形、TOFD）灵活适配不同检测场景；高速USB 3.0与Wi-Fi实现数据实时传输与云存储；配套分析软件支持缺陷三维重构与报告自动生成，助力企业构建数字化检测管理体系。
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