DIL 832真实差分高分辨热膨胀仪
高灵敏度光学编码器和 TA 删除真实差分技术，适用于要求更为严苛的研发实验室。
凭借以下令人印象深刻的独特技术和功能，DIL 832 成为所有研发实验室执行机械和尺寸特性表征的理想工具：TA 仪器删除 True Differential™ 技术、获得专有的 1 nm 分辨率光学编码器、一系列新型动态加热炉以及新款线性样品加载电机。打造业界性能优异的卧式推杆膨胀仪，不受被测应用或材料的影响。
在 5000μm 总测量范围内，线性电机可确保 0.01 至 1.00 N 样品加载力，力解析度为 0.01 N，线性度优于 0.01 N。
获得专有的新型增量式光学编码器将长度测量的真实分辨率降至 1 nm，达到同类产品的优异水准。支持测量短小样品，同时保持优异 ∆L 分辨率。
应用新型设计的测量头外壳及有源电气热稳定性确保检测核心具备删除的稳定性。DIL 832 将 TA 仪器的删除 True Differential™ 技术与 TA 仪器加热炉的独特设计相结合，提供业界领先的 0.01 x 10-6 K-1 CTE 精确度。
DIL 832 自动记录初始样品长度，支持的删除/广泛样品长度为 25 mm，删除/广泛直径为 6 mm。
水冷炉提供动态性极强的温度编程功能，删除/广泛加热速率为 50 K/分钟，由 1000 °C 冷却至室温仅需 13 分钟，仅为同类仪器的 1/15。
集成电子元器件提供网络连接，而集成触摸屏允许用户直接在仪器中执行多项功能，实时显示测量参数和测试完成时间。
测量原理：
所有膨胀仪测量系统中的材料均处于稳定状态，但部分材料仍发生显著的尺寸变化。上述情况在相关方法涉及的加热或冷却温度范围较大时尤为明显，这些材料可能发生与样品等效的尺寸变化。为了确保精确度，良好的实验室测量需要使用与样品属性、形状及尺寸相似度较高的参考材料，基于每款温度程序执行仪器校准。然而，对于有助于曲线精确度校准的不同变量而言，其数量可能随时间产生显著的重复性误差，进而影响测量精确度。
DIL 832 采用 TA 仪器删除的 True DifferentialTM 设计，它是删除一款真正完全补偿测量系统尺寸变化的系统。该仪器支持使用光学编码器仅测量样品的实际变化情况。因此，线性热膨胀曲线不再取决于未知校准因子。此外，CTE 值的精确度和精密度同样大幅提升。被测材料不会对其产生影响。
基于卧式推杆设计，DIL 832 中的样品放置于样品夹持器的样品支架中。该支架设计独特，可删除/广泛程度减少摩擦。通过推杆自身施加的加载力确保其在进行热处理时与测量系统存在机械接触。
根据温度范围，测量系统和样品支架材料可选择熔融石英或
氧化铝。DIL 832 使用真实分辨率高达 1 nm 的增量式光学编码器检测并测量尺寸变化。
卧式膨胀仪的关键特性是施加于样品的加载力，尤其是通常需要研发实验室进行测试的未知、难加工或快速收缩材料。正确的加载力取决于待测事件、该事件发生时的速率、时间以及实验温度范围。DIL 832 线性磁性电机确保在 5000μm 测量范围内实现精度极高、真正恒定不变的加载力，范围为 0.01 N 至 1 N。
应用：
材料
聚合物、陶瓷、玻璃、建材、高性能材料、金属、合金。与激光闪光仪器搭配使用的理想之选。
行业
学术界、高级陶瓷业、建材、玻璃、汽车、航空航天、国防、金属和非金属业、电子和微电子元器件、可再生能源。
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