DIL 806DIL 806光学热膨胀仪
DIL 806 是一款多功能的热膨胀和收缩测量仪器，该仪器使用创新性测量原理，能够用于非常规性实验，还可改善诸多常规性测试。
DIL 806 中使用的光学热膨胀测量方法是一个绝对的测量过程，完全不受仪器的膨胀或收缩影响。因此，测量结果不需要根据不同的温度程序来进行校正或校准。通过与 DIL 806 炉的快速响应特性相结合，该系统非常适合涉及多个温度步骤和动态加热速率的动态分析过程。
高性能 LED 向样品发射宽幅平面光，并由高分辨率 CCD 传感器检测样品阴影。然后检测到的信号由数字化边缘检测处理器进行评估，从而灵敏并准确地测量尺寸的变化。该原理被称为阴影光方法，能够准确、绝对地测量样品尺寸随温度的变化。
样品被置于盘形炉的中心平台上，不受外力作用。因此，DIL 806 膨胀仪尤其适合测量金属，并且在配备可选的零度以下炉子时可测量塑料样品。
薄样品也可采用专为此类应用设计的样品支架来轻松进行分析。
宽幅入射光线意味着该仪器不像其他传统膨胀测量技术那样要求严格的样品制备，并且样品在平台上的位置不需要精确定位，这样不熟练的操作人员也可轻松使用。
仪器自动测定和保存初始长度，以用于后续的线性热膨胀系数计算。
炉体能够采用 高达 100 ℃/min 的速度快速加热，并在 10 分钟内从 1400 ℃ 冷却至 50 ℃。
光学膨胀测量：
非接触式膨胀测量允许样品自由膨胀/收缩，不受机械接触引起的干扰。这将更精确地测定样本的尺寸变化以及事件发生时的温度。并且，样品上不存在因接触测量系统而产生的任何负荷，从而能够将分析从软化点扩展至熔化态，并且还可分析通常无法测试的软质样品。
金属 – 薄膜的热膨胀：
传统上来说，由于顶杆接触力，顶杆热膨胀仪测量的薄膜可能是有问题的。DIL 806光学膨胀仪是理性的表征薄膜和其他对样品尺寸和制备有限制的材料的仪器。在这个例子中，薄钢箔的热膨胀和相变，由DIL 806非接触式光学膨胀仪测量表征。测量过程是绝对的和非接触式的，所以不需要系统校准曲线。有使用的样品架支撑薄膜样品。
参数：
样品长度： 0.3 – 30 mm
样品高度：删除/广泛 10 mm
位移变化：删除/广泛 29 mm
位移分辨率：50 nm
温度分辨率：0.1 ℃
α 准确度：0.03 x 10-6 K-1
温度范围：-150℃至160℃
气氛：真空、惰性气体、空气
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