X荧光光谱仪ROHS 分析仪
详细说明
产品介绍：
1.采用原装电致冷 性能Si-PIN探测器，分辨率高，探测范围宽，涵盖RoHS、卤素、镀层、合金（含
贵金属）及各种常规材料分析的基本要求。
2.配置 进的DPP数字多道信号集成处理器，比普通模拟多道信号处理器性能佳，尤其在 计数率时分辨率高（如Hg和CI等），高达80MHz的数据传输速度使分析时间变短，尤其在测量重复性和长期稳定性上有提高。
3.内置清摄像系统，清晰观察样品，准确定位样品测试区域。
4.配套FP测量软件，集成多种谱图处理算法和基体校正算法，有效降低仪器测量中的各种干扰谱峰，使低含量和痕量元素的检测结果趋近准确，更加接近真值水平。
能量色散X荧光光谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将来自试样的荧光X射线依次检测，得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲，经放大器放大后送到多道脉冲分析器。按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数，脉冲幅度可以用X光子的能量标度，从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线，即X光能谱图。
1、探测器：Amptek Si-PIN探测器，高速脉冲分析系统；
2、高压电源：Spellman 50w（50kv/MA）；
3、X射线管：50w侧窗铍窗型X射线管；
4、能量分辨率：149ev；
5、元素分析范围：硫（S）-铀（U）；
6、测量时间：60-300S；
7、测量含量范围：1ppm-99.9%；
8、交流220v供电设备：1KVA交流净化稳压电源；
9、工作温度：10-30°C；
10、测量条件：大气环境。
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