计算机断层扫描（CT）
仪器型号：Zeiss Metrotom 800；GE Phoenix v|tome|xm等
CT是计算机断层成像技术的简称 ，它能在对检测物体无损伤条件下，以二维断层图像或三维立体图像的形式 ，在不破坏样品的情况下，利用X射线对物体进行扫描，清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部 结构、组成 、材质及缺损状况。纳米、微米CT适用于小尺寸样品高分辨率的检测；工业CT适合大尺寸样品检测。
CT成像原理
当X射线穿过样品时，样品内部的不同材质、孔洞、缺陷部分对X射线的吸收率不同，后端探测器接收到的信号不同，由此可以通过图像差异区分出不同的结构。CT技术（计算机断层扫描技术）正是基于这一穿透性差异，在将样品旋转360°获得全方位切片投影图像后，利用重构算法将样品的内部结构三维可视化。
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