XDL 210 荧光测厚仪
产品名称及型号:荧光测厚仪 XDL210
说明:图片仅供参考，您订的机器可能与图不完全一致
产品主要功能及应用领域:
XDL 210 荧光测厚仪主要用于
贵金属加工和首饰加工行业、银行、首饰销售和第三方检测机构以及电镀行业无损检测铁镀
锌、铁镀铬、
铜镀锌、铜镀
镍、铜镀金等各类金属镀层厚度测试。
技术参数:
1、元素分析范围:从硫(S)到铀(U);
2、一次可同时分析3层以上镀层;
3、镀层厚度分析检出限可达0.01um;
4、分析厚度一般为0.1um到50um之间(视材料而不同);
5、多次测量重复性可达0.1um(对于小于1um的最外层镀层)
6、长期工作稳定性为0.1um(对于小于1um的最外层镀层)
7、配置小孔准直器，测试光斑在0.1mm以内;
8、探测器能量分辨率为145+5eV;
9、应用于金属电镀层厚度的测量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu、Ni/Cu/Fe、Au/Ni/Cu等
257 
咨询底价
