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317 工作原理
该设备基于X射线荧光原理，通过激发镀层中的元素发出特征X射线，分析其能谱以确定镀层厚度及成分。相比传统方法，具有非破坏性、高精度（纳米级）、快速检测（5-30秒/次）的优势。
应用范围
广泛应用于光伏、五金卫浴、电子电气、航空航天、汽车、通讯等行业，适用于电镀、化镀、热镀等工艺的镀层厚度检测，包括镍、金、银、铜等金属镀层及多层镀层分析。
产品技术参数
测量精度：<5%
检测范围：0.0025μm至50μm（不同材料略有差异）
元素检测：铝（Al）至铀（U）
准直器：标配0.3mm，可选配0.1-4mm多种规格
探测器：Fast-SDD大窗口探测器，分辨率125eV
测量时间：5-30秒
移动平台：高精度XY轴移动，重复定位精度0.005mm
电源：220V/50Hz，功率150W+550W
工作环境：温度15-30℃，湿度<70%
产品特点
多镀层分析能力：可同时分析5层及以上镀层，支持单层至合金镀层检测。
高精度与稳定性：采用X射线管与Fast-SDD探测器，确保纳米级测量精度。
自动化与便捷性：激光定位、自动对焦、鼠标控制移动平台，操作简单，支持自动多点测量。
无损检测：无需样品处理，不破坏被测物体，适用于固体、粉末、液体等多种形态样品。
软件功能强大：内置FP/校准曲线分析方法，支持数据统计（均值、标准差、趋势线等），可远程操作与升级。
安全设计：铅玻璃屏蔽罩、射线安全防护，符合环保与操作安全标准。
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