全部
▼
369
工作原理
该探头支持光学干涉与电磁感应双模式测量：光学模式下，激光或白光穿透薄膜表面，上下界面反射光形成干涉图样，通过分析相位差与波长关系计算厚度电磁感应模式下，利用高频交变电流在线圈中产生磁场，通过检测金属基材表面涡流反馈信号推导涂层厚度。双模式自适应切换，兼顾透明/非透明材料的测量需求。
应用范围
广泛应用于半导体制造（芯片薄膜层监控）、光学元件（镜头镀膜厚度检测）、新能源电池（电极涂层均匀性分析）、汽车工业（车身漆层厚度控制）及航空航天（复合材料涂层评估）等领域，尤其适用于曲面、微小区域及多层膜结构的在线或离线检测。
技术参数
测量范围：0.1nm-10mm（光学模式）；0.1μm-2mm（电磁模式）
分辨率：0.01nm（光学）；0.1μm（电磁）
精度：±0.5%读数或±0.1μm（取较大值）
探头尺寸：直径12mm×长度50mm（可定制）
接口：支持USB/RS232/蓝牙数据传输，兼容工业总线协议
产品特点
模块化设计：探头与主机分体式结构，支持快速更换以适应不同测量场景，便携性显著提升。
智能算法：内置AI补偿系统，自动修正材料折射率、温度漂移及表面粗糙度对数据的影响。
实时反馈：2.4寸TFT彩色液晶屏动态显示厚度曲线，支持峰值/谷值捕捉及统计功能。
耐用性：探头采用钛合金外壳与蓝宝石镜片，抗腐蚀、耐磨损，适用于恶劣工业环境。
该产品以“精准、灵活、智能”为核心优势，为薄膜厚度检测提供了高效解决方案，是质量管控与工艺优化的理想工具。
咨询底价
