全自动带显微镜多点测量膜厚仪
简要描述：硬化涂层膜厚仪是一款快 速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。
硬化涂层膜厚仪是一款快 速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台计算机控 制的XY工作台，使其快 速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。品牌属于Thetametrisis。
Thetametrisis利用 FR-Mic，通过紫外/ 可见/ 近红外可轻易对局部区域薄膜厚度，厚度映射，光学常数，反射率，折射率及消光系数进行测量。
【膜厚测量仪相关应用】
1.高校 & 研究所实验室
2.半导体制造
3.(氧化物/氮化物， 硅膜, 光刻胶及其他半导体薄膜.)
4.MEMS 器件 (光刻胶, 硅膜等.)
5.LEDs, VCSELs
6.数据存储
7.阳极处理
8.曲面基底的硬镀及软镀
9.聚合物膜层, 粘合剂
10.生物医学(聚对二甲苯, 生 物膜/气泡壁厚度.)
11.还有许多…
【Thetametrisis膜厚仪特点】
1、实时光谱测量
2、薄膜厚度，光学特性，非均匀性测量， 厚度映射
3、使用集成的，USB连接高品质彩色摄像机进行成像
【Thetametrisis膜厚测量仪产品优势】
1、单击即可分析 (无需初始预测)
2、动态测量
3、包含光学参数 (n & k, color)
4、可保存测量演示视频录像
5、超过 600 种不同材料o 多个离线分析配套装置o 免费操作软件升级
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