仪器简介
Xstress 3000是先进的X射线应力仪，采用固态线性探测器技术，可以有效准确的测量晶体材料的残余应力，与之配套的XTronic软件，能实现直线和椭圆拟合数据、Dolle-Hauk、以及三轴应力测试方法。还包括多种高级拟合函数：如抛物线法、高斯法、皮尔森法、柯西法、中心法、重心法、中心重心法。峰强、积分宽度、半高宽以及ψ点位的图形展示提供了详实易懂的测量结果。通过PROTO 8818-V3能实现对材料表面抛光，去掉表面干扰层，获得更真实的应力结果，还能对材料进行剥层，获得沿深度方向的残余应力。
性能指标
管流：0～10mA，连续可调;
管压: 5～30kV，连续可调;
最大功率：300W;
有50、75、100mm三套衍射半径;
可测定直径150mm的管内壁残余应力;
侧倾法、同倾法通用;
2θ角范围：110°～170°，连续可调;
ψ角范围： -60°～+60°;
测试深度：10~20μm
测试项目
采用Cr射线管可对钢铁及
铝合金材料进行表面残余应力测量;采用Mn射线管可对
镍基合金及高温合金材料进行表面残余应力测量
样品要求
可对待测样品进行预处理，但需要采用化学方法，不破坏原始表面应力待测样品高度不超过800mm主要测量晶体材料
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