简介
X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！
工作原理
X射线衍射仪是适合测试粉末样品、块状固体等，主要应用于混合物相的定性分析；样品的对照分析；晶体物相的半定量分析；材料晶体结构的表征分析；结晶度分析等，面向化学、药物、材料、农林、化工、环境、生化、矿物、地质、冶金、半导体等领域。 技术参数
选型原则
检测能力：衍射，掠射，原位测试，微区 应用案例
下单网址：www.foftest.com 设备结构
X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！
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