基础金属	铜电解铜铜精矿铜管铜棒废铜铜排铜合金精铜杆再生铜杆铜板带铝铝土矿氧化铝电解铝铝辅料铝棒铝合金锭废铝铝杆铝型材铝板卷铅铅精矿铅锭铅蓄电池再生精铅还原铅废铅蓄电池铅合金锌锌精矿电解锌锌合金氧化锌锌粉锡锡精矿锡锭锡材镁兰炭硅铁镁锭
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新能源	锂锂矿锂化合物金属锂镍镍矿镍铁精炼镍镍盐高冰镍 MHP 钴电解钴钴粉氯化钴四氧化三钴硫酸钴钴中间品氧化钴碳酸钴钴酸锂锰锰矿电解锰电池级硫酸锰锂电池三元前驱体隔膜磷酸铁电解液正极材料电芯石油焦针状焦包覆沥青人造石墨硅碳负极硅氧负极硅硅石有机硅硅粉三氯氢硅工业硅再生硅光伏多晶硅硅片电池片组件组件成本指数海外组件废旧组件

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等离子聚焦离子束系统

3063

规格/型号：卡尔蔡司CROSSBEAM350

品牌：暂无

应用领域：暂无

产地：北京 - 北京

厂家/供应商：北京依维特技术服务有限公司

咨询电话:：暂无（请说明信息源自“北方有色网”）

更新时间：2022-01-06

级别：已认证

等离子聚焦离子束系统说明介绍

简介蔡司双束电镜CROSSBEAM系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。CROSSBEAM系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)出色的加工能力相结合。无论是加工、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用效率。 工作原理 1，生命科学，如断层扫描，三维重构
2，电池领域，如原子层组分表征
3，半导体领域，如失效分析，电路修复
4，金属领域，如界面分析，亚表面分析
5，材料科学，如晶体微观结构分析，纳米图形化加工
6，透射电镜、EBSD、微观力学等多种样品的原位制备
7，微纳加工 技术参数

电子束流5pA100nA
分辨率3nm@30KV
检测器lens Se、 Inlens esB、可变气压二次电子探测器VPSE、二次电子二次离子探测器SESI、扫描透射电子探测器STEM、背散射探测器BSD

选型原则 检测能力：SEM截面、TEM制样、三维重构 应用案例

设备结构 蔡司双束电镜CROSSBEAM系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。CROSSBEAM系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)出色的加工能力相结合。无论是加工、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用效率。