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便携式现场金相检验系统金相金相检验时,不用移动工件,无需切割取样,直接在工件上研磨、抛光、蚀刻并观察检验,从而保证工件的完整性,是一种无损检测金相组织的有效工具。研磨、抛光和蚀刻.
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华银手动转塔数显维氏硬度计200HVS-10是一款专用于材料维氏硬度测试的精密仪器,通过金刚石压头压痕法评估金属、非金属等材料的硬度性能,手动转塔设计支持压头与物镜快速切换,数显功能自动计算硬度值,适用于精密制造、科研及质量检测领域的硬度控制,是薄材、小工件硬度测试的理想工具。
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上海阜力测量设备有限公司代理的华银数显小负荷布氏硬度计HBS-62.5是一款专用于薄板、小尺寸工件或表面硬化层布氏硬度测试的精密仪器,通过小载荷压痕法精准评估材料硬度性能,适用于电子、五金、汽车等行业的精密质量控制场景,是薄材硬度检测的理想工具。
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DM750P专业偏光显微镜是一款适用于岩片、玻璃、陶瓷、塑料、高分子材料等样品偏光特性常规观察和分析的设备。它支持透射和透反射观察配置,具备20mm视域的整体光路和LED光源照明。该显微镜配备360度旋转的专业偏光载物台,多种偏光专用检偏器和丰富的偏光零部件,可进行正交偏光和锥光偏光观察。4孔物镜转盘支持每个物镜的单对中,提供偏光专用目镜观察筒和目镜。此外,可配接荧光部件实现荧光观察分析,目镜筒具备360°旋转功能,便于多人共览。设备还可配接徕卡的ICC50图像采集模块或外置数码相机,实现高品质图像的采集和存储。
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DM 4500P半自动智能数字式偏光显微镜是一款研究级设备,专为观察分析岩石薄片、玻璃、陶瓷、塑料、高分子材料等样品的偏光特性而设计。它具备集成式设计,固化透反射光轴,可调焦锥光勃式镜,1.6倍自动变倍系统和复消色差光路,支持25mm视野直径。配备6孔位手动物镜转盘和25mm直径偏光专用物镜,反射光可实现明场、偏光、干涉观察,透射光可实现明场、暗场、偏光、干涉、锥光观察。机身内置12V100W透反射照明电源,提供高级照明方式,并能自动记忆不同物镜和观察方式下的光强、光阑大小及聚光镜组合,实现快速恢复。
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LeicaM125、M165C、M205C和M205A是研究级立体显微镜,具备高变倍比和复消色差设计,提供卓越的图像质量和分辨率。M125变倍比为12.5:1,放大倍数8-100倍;M165C为16.5:1,7.3-120倍;M205C和M205A均为20.5:1,7.8-160倍。这些显微镜支持连续或分级变倍,具有良好的齐焦性,内置可调双光阑以优化景深和对比度。它们配备ESD防静电机身,放电时间小于2秒,可配电动调焦支架和多种照明方式。此外,可连接数码相机和摄像头,选配研究级透射观察载物台,以及多种倍数的物镜和目镜,以满足不同的观察需求。
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Leica Z6 APO立体显微镜是一款高性能的6:1变焦系统,专为高精密度检验和机器视觉系统一体化设计。它具备优异的对比度、色彩逼真度和完全复消色差的变焦系统及物镜,提供从0.57X到3.6X的变焦范围和7.1X到45X的光学放大率。其分辨能力从336LP/MM到702LP/MM,数值孔径从0.117到0.234,活动距离可达97mm或39mm。该显微镜适用于各种试验机的多样聚焦,提供逼真的色彩偏振用于光学检测,以及无畸变的同轴照明。它还具备电动聚焦(可选)、精细聚焦、可转换焦距位置、内装膜片和可变视角的复消色差ERGO管。
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EM-AFM可在SEM中同时提供原子力显微镜成像和纳米机械测量。它综合了这两种技术的优点,可高速获得高分辨率的三维图像,并且在微纳米和亚纳米尺度上实时观察纳米级力的相互作用,与常规SEM/FIB兼容,并与EDS, EBSD, WSD兼容。
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对于工程师来说,识别介质/平面基底的纳米级缺陷的任务是一个非常耗时的过程,ParkNX-HDM原子力显微镜系统可以自动缺陷识别,通过与各种光学仪器的联用可以提高缺陷检测效率,越来越多的行业需要超平的介质和基板来满足不断缩小的设备需求,ParkNX-HDM原子力显微镜系统具有业界低0.5埃噪音,并将与其真正的非接触式模式相结合实现亚埃级表面粗糙度的测试。
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高精度探针针尖变量的亚埃米级表面粗糙度测量,晶圆的表面粗糙度对于确定半导体器件的性能是至关重要的,对于先进的元件制造商,芯片制造商和晶圆供应商都要求对晶圆商超平坦表面进行更精确的粗糙度控制,通过提供低于0.5埃的业界低噪音,并将与其真正的非接触式是模式相结合,ParkNX-Wafer能够可靠地获得具有小针尖变量的亚埃米级粗糙度测量,Park的串扰消除还允许非常平坦的正交XY扫描,不会有背景曲率,及时在平坦的表面上,也不需要过多考虑扫描位置,速率和大小。
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ParkNX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比,高真空测量具有准确度好、可重复性好及针尖和样本损伤低等优点,因此用户可测量各种故障分析应用中许多信号响应,例如扫描扩散电阻显微术(SSRM)的掺杂物浓度。ParkNX-Hivac使得真空环境中高精确度和高分辨率测量的材料科学研究远离氧气与其它药剂的影响,在高真空条件下执行扫描扩散电阻显微镜测量可减少所需的针尖-样本相互作用力,从而降低对样本和针尖的损伤。
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