本发明涉及一种利用壳温评估IGBT功率模块老化状态的方法,包括以下步骤：建立IGBT功率模块的电‑热耦合模型；通过实验方法获取IGBT功率模块的壳温数据；建立IGBT壳温预测老化状态的极限学习机模型，实现评估IGBT功率模块老化状态的功能。本发明设计合理，其利用IGBT壳温便于测量以及壳温可以反映IGBT老化状态的特点，在评估过程中，充分考虑IGBT老化的影响，通过电‑热耦合模型能够更加准确地获得全新功率模块中IGBT功率损耗和壳温的变化情况，从而利用壳温评估IGBT的老化状态，本发明无需测量结温即可确定模块的老化状态，从而避免疲劳失效造成的损坏，提高电力电子设备运行的可靠性。
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来源：北方有色网
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