本申请提供一种电磁继电器寿命评估方法，该方法包括：根据触点电流和触点电压计算得到待测继电器的触点接触电阻的阻值；确定待测继电器失效并记录待测继电器的失效数据；根据最优拟合原则和待测继电器的失效数据，分别预估低温组和高温组的寿命分布曲线；选取80％的可靠度，基于寿命分布曲线获取低温组的中位寿命和高温组的中位寿命；根据低温组的中位寿命、低温组的温度、高温组的中位寿命、高温组的温度代入阿伦尼乌斯模型，求解阿伦尼乌斯模型的未知参数；将电磁继电器的使用环境温度代入已求解的阿伦尼乌斯模型，计算得到待测继电器的寿命评估结果等步骤。本申请能够对电磁继电器的寿命进行评估，并提高评估结果准确性。
声明：
“电磁继电器寿命评估方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1241
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
