本公开提供一种
芯片修补方法及装置、电子设备以及计算机可读存储介质，该方法包括：获取目标芯片，对目标芯片进行多验证单元测试，得到第一测试通过芯片；对第一测试通过芯片进行单验证单元测试，得到测试失效芯片；测试失效芯片包括部分失效芯片；获取部分失效芯片中失效单元对应的失效单元地址；获取预先配置的冗余单元，基于冗余单元与失效单元地址的相邻地址对部分失效芯片进行修补处理。本公开对于多验证单元测试通过且单验证单元测试失败的失效单元，采用冗余单元与失效单元地址的相邻地址对失效单元进行修补，可以提高相关区域数据存储的稳定性，最大化利用bit资源或晶粒资源。
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“芯片修补方法及装置、电子设备和存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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