本实用新型公开了一种微波器件动态老化试验系统，它包括老化试验板（6），微波信号源（2）与程控电源（4）通过背板连接器（7）与老化试验板（6）输入端连接，老化试验板（6）输出端通过背板连接器（7）与微波信号分析仪（3）连接；解决了现有技术的微波器件老化试验采用直流偏置的方式进行，由于这是一种静态老化方式，存在的器件实际工作状态与试验状态相差甚远，达不到剔除早期失效器件等技术问题。
声明：
“微波器件动态老化试验系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1055
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
