在OTP存储器中，反熔丝存储单元内寄生电容的存在将对OTP存储器编程后的读取阈值造成很大影响，严重时有可能无法正确读取编程数据，导致读机制的失效。本发明在介绍OTP存储器的整体读取电路以及灵敏放大器功能的基础上，通过理论分析以及仿真阐述了反熔丝存储单元内寄生电容对OTP存储器读取阈值的影响，并提出了解决方案，从而消除了存储单元内寄生电容对OTP存储器电路读取阈值的影响，最大程度保证了存储器的读取阈值，这可以最大程度的保证OTP存储器的读取阈值，提高OTP存储器用户的编程效率，提高
芯片成品率。
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“读取阈值受寄生电容影响的OTP存储器设计” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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