本发明一种基于随机过程的小卫星寿命评估方法及系统。首先，本发明利用FTA分析结果，确定影响小卫星寿命的一阶及二阶故障割集。其次，利用FMEA分析方法，确定一阶及二阶割集中的所有故障的类型，对于随机故障，采用泊松过程数学模型描述随机故障过程，对于退化故障，采用维纳过程数学模型描述退化故障过程。根据小卫星产品的实际失效数据确定泊松过程数学模型参数及维纳过程数学模型参数。结合小卫星产品的故障模型，利用进程交互仿真方法，对小卫星的寿命进行仿真，根据仿真结果统计平均值，确定小卫星寿命。
声明：
“基于随机过程的小卫星寿命评估方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1214
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
