本发明的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法包括以下步骤：寻找电子产品的最薄弱功能模块；设计加速退化试验；数据统计分析；以及确定可靠性模型；所述数据统计分析具体为：通过数据折算将步进加速退化数据转化成恒定应力加速退化数据；利用恒定应力加速退化数据拟合得到性能退化轨迹；根据性能失效阈值和性能退化轨迹得到伪失效寿命，将每个应力水平所对应的伪失效寿命数据进行分布假设检验，以确定伪失效寿命数据服从的分布函数；确定加速模型。本发明的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法解决了试验样本短缺，试验时间有限的问题，有效提高了电子产品的试验效率，同时缩短了电子产品的可靠性评估时间。
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来源：北方有色网
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