本申请实施例提供一种字线电阻测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品，该字线电阻测试方法包括：向与待测试字线连接的存储单元中写入第一数据，并在所述待测试字线激活预设时间后，读取所述存储单元中存储的数据，其中，所述预设时间小于所述存储单元对应的标准行地址激活时间；根据所述存储单元中存储的数据，确定所述待测试字线的电阻是否合格。在向存储单元写入数据后，通过较短的行地址激活有效时间进行存储数据的读取，基于所读取的数据与所写入数据是否一致，实现对字线电阻的测试，测试成本低、准确度高，通过字线电阻测试，有效避免了DRAM因字线电阻偏大而导致读写失效。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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