本发明公开了一种存储
芯片性能的测试方法及装置。该方法包括：向待测试存储芯片执行设定数量的全盘写入和读取操作；在全盘写入的过程中，对待测试存储芯片所包括的每个存储单元，进行擦除次数计数并记录；在全盘读取之后，将读取数据与写入数据进行比对，以记录每个存储单元的错误位数；在全盘写入和读取的过程中，记录写入性能参数和读取性能参数；重复执行上述测试过程，直至所述待测试存储芯片老化失效。通过本发明的技术方案，能够对存储芯片的老化性能进行有效测试。
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“存储芯片性能的测试方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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