本实用新型涉及一种老化测试器结构。这种老化测试器包括USB插头和基体，基体包括盖板、电路板和底板，电路板夹紧固定于盖板和底板之间；USB插头与电路板电连接，USB插头固定连接盖板和底板的侧边；电路板上的测试触点穿过盖板外露于背向电路板的、盖板的工作表面，盖板上设有沿着盖板工作表面的法向凸起的隔离台，隔离台设在测试触点与USB插头之间。隔离台的高度大于所述测试触点的高度。本实用新型在USB插头和测试触点之间设置隔离台，使得USB插头和测试触点不会产生击穿，从而降低设备失效几率、降低测试失败几率，同时保证了测试的安全，提高了测试器的可靠性，满足测试需求。
声明：
“老化测试器结构” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
906
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
