本发明提供了一种基于功能安全的测试方法，包括以下步骤：S1、输入待测安全模块；S2、搜索
芯片安全机制库和功能安全测试用例库；S3、选定待测安全模块全部安全机制和测试用例表；S4、确定全部待测安全机制对应的故障模型和失效模式；S5、利用所述安全机制对应的故障模型和测试脚本模板文件，生成选定待测安全模块的所有故障注入测试脚本。本发明有益效果：本发明是基于功能安全测试流程的要求，通过对芯片安全机制库、功能安全测试用例库、故障注入测试脚本库和失效模式库的建立，大大缩短了同类型芯片功能安全测试的时间，考虑了功能安全测试过程中应用的方法，给出了安全机制诊断覆盖率导出方法。
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来源：北方有色网
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