本发明公开了一种测试系统，用以测试待测装置，测试系统包括测试装置以及杂讯产生模块。测试装置耦接于待测装置，以形成耦接路径，并用以通过耦接路径输出测试信号至待测装置。杂讯产生模块耦接于待测装置与测试装置之间的耦接路径，并用以选择性地干扰测试信号。本发明的测试系统可在测试时率先筛选出会因为杂讯干扰而运作失效的待测装置以避免待测装置在实际应用时因为杂讯干扰失效，且还可根据待测装置在不同产品中的应用状况进行客制化的测试。
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来源：北方有色网
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