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用于测试IC芯片的COB板

859   编辑:管理员   来源:北方有色网  
2023-03-19 09:00:14
本实用新型涉及一种用于测试IC芯片的COB板,包括PCB板、焊接固定于所述PCB板上的引脚和金手指,所述PCB板上设有开口,所述金手指焊接于所述开口边缘,所述IC芯片可以穿过所述开口。本实用新型可以实现做IC芯片失效分析时,可以看到IC芯片的背面,进而可以发现IC芯片背面的故障。
声明:
“用于测试IC芯片的COB板” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
         
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