本发明提供了一种测试方法、测试系统、电子设备和可读存储介质，其中测试方法包括：对所述半导体器件进行第一测试；根据所述第一测试的第一测试结果，将所述多个功能单元分为有效单元和失效单元；判断所述半导体器件上具有所述失效单元的区域是否为特定失效区域；若是，将部分有效单元标记为待定单元，所述部分有效单元邻近所述特定失效区域内的失效单元，并确定所述待定单元中是否具有早期失效单元，进而可以快速地筛选出半导体器件上的早期失效单元，进而不必通过对每个有效单元进行可靠性测试，来筛选出半导体器件上的早期失效单元，不仅缩短了筛选时间、提高了筛选效率，而且降低了筛选成本。
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来源：北方有色网
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