本发明公开了一种CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法。本发明将CT探测器核心部件放入高加速寿命试验箱中，控制高加速寿命试验箱同时进行温度、振动循环周期性试验。并通过高低温循环变化，逐步增加温度应力系数。在每个高温点向低温点变化的同时，振动应力步进增加。在各相应时间点进行失效判断和失效统计，直到试验样品全部失效为止，最后进行失效分析，鉴定探测器核心部件的平均无故障工作时间。本发明避免了正常寿命试验方法样机数大、耗时久的缺点，相比普通的高低温循环试验、振动步进试验大大缩短了试验时间。在短期内快速激发核心部件的潜在故障，为产品的整体设计提供全过程技术支持，有效提高产品的可靠性水平。
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来源：北方有色网
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