本申请公开了一种存储器的检测系统、方法及
芯片。本申请在检测系统设置检测控制模块，用于在与检测系统连接的内建自测试模块上电后，然后利用检测控制模块监听测试事件，并向测试访问端口控制器提供测试数据，测试访问端口控制器将测试数据通过相应的测试管脚输入内建自测试模块，以使内建自测试模块利用测试数据对存储器进行自动检测，相比现有技术，不再需要人工配置大量的测试策略，节省了测试流程，同时对存储器进行自动测试有效降低了存储器失效的几率，规避了芯片在使用上的风险。另外通过自动测试还能够快速排除存储器出错导致的功能无法正常使用的情况，降低了芯片的损耗。
声明：
“存储器的检测系统、方法及芯片” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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